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Beschreibung
Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.
Details
| Verlag | Vieweg & Teubner |
| Ersterscheinung | 01. Januar 1998 |
| Maße | 23.5 cm x 16.2 cm |
| Gewicht | 522 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9783815423141 |
| Seiten | 322 |
Herstellerinformationen
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