✍️ 🧑‍🦱 💚 Autor:innen verdienen bei uns doppelt. Dank euch haben sie so schon 367.705 € mehr verdient. → Mehr erfahren 💪 📚 🙏

Energielücke einer Halbleiterdiode - Experiment

Energielücke einer Halbleiterdiode - Experiment

von Radhika Ikkurti
Softcover - 9786206534457
43,90 €
  • Versandkostenfrei
Auf meine Merkliste
  • Hinweis: Print on Demand. Lieferbar in 5 Tagen.
  • Lieferzeit nach Versand: ca. 1-2 Tage
  • inkl. MwSt. & Versandkosten (innerhalb Deutschlands)

Autorenfreundlich Bücher kaufen?!

Beschreibung

Es gibt eine kurze Zusammenfassung darüber, wie Energielücken gefunden werden und welche Anwendungen sie haben. Die Elektronendichte ist viel größer als die Lochdichte im Halbleiter vom n-Typ, dargestellt als ne >> nh, während die Lochdichte im Halbleiter vom p-Typ viel größer ist größer als die Elektronendichte: nh >> ne.In einem Halbleiter vom n-Typ liegt das Donatorenergieniveau nahe am Leitungsband und entfernt vom Valenzband. Im p-Typ-Halbleiter hingegen liegt das Energieniveau des Akzeptors nahe am Valenzband und vom Leitungsband entfernt.Die im p-Typ-Halbleiter hinzugefügte Verunreinigung sorgt für zusätzliche Löcher, die als Akzeptoratome bekannt sind, während die im n-Typ-Halbleiter hinzugefügte Verunreinigung zusätzliche Elektronen liefert, die als Donoratome bezeichnet werden.Das Fermi-Niveau des n-Typ-Halbleiters liegt zwischen dem Donor-Energieniveau und dem Leitungsband, während das des p-Typ-Halbleiters zwischen dem Akzeptor-Energieniveau und dem Valenzband liegt.Im p-Typ-Halbleiter bewegen sich die Mehrheitsträger vom höheren zum niedrigeren Potenzial, im Gegensatz zum n-Typ, wo sich die Mehrheitsträger vom niedrigeren zum höheren Potenzial bewegen.

Experiment

Details

Verlag Verlag Unser Wissen
Ersterscheinung 06. Oktober 2023
Maße 22 cm x 15 cm x 0.4 cm
Gewicht 102 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9786206534457
Seiten 56