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Beschreibung
La diffrazione dei raggi X è una tecnica non distruttiva molto potente per caratterizzare i materiali cristallini. Fornisce informazioni su strutture, fasi, orientamenti cristallini preferiti e altri parametri strutturali, come la dimensione media dei grani, la cristallinità, la deformazione e i difetti cristallini. I picchi di diffrazione dei raggi X sono causati dall'interferenza costruttiva di un fascio monocromatico di raggi X diffusi con angoli particolari da ciascuna serie di piani reticolari di un campione. L'intensità dei picchi è osservata dalla distribuzione degli atomi all'interno del reticolo. Di conseguenza, il modello di diffrazione dei raggi X è l'impronta digitale della disposizione periodica degli atomi in un determinato materiale. Questa rassegna riassume le tendenze scientifiche legate al rapido sviluppo della tecnica della diffrazione dei raggi X negli ultimi cinque anni nei settori della farmaceutica, delle scienze forensi, delle applicazioni geologiche, della produzione del vetro, dell'ingegneria civile e dell'analisi della corrosione.
Details
| Verlag | Edizioni Sapienza |
| Ersterscheinung | 14. September 2022 |
| Maße | 22 cm x 15 cm x 0.5 cm |
| Gewicht | 119 Gramm |
| Format | Softcover |
| ISBN-13 | 9786205160848 |
| Seiten | 68 |