Análisis de errores XAFS

Este libro explora en profundidad el análisis de errores en la Estructura Fina de Absorción de Rayos X (XAFS), esencial para garantizar la fiabilidad de los resultados experimentales. El primer capítulo define los errores en XAFS, distinguiendo entre errores estadísticos y sistemáticos, y examina su impacto en los resultados. El segundo capítulo se centra en los errores estadísticos, explicando cómo estimarlos mediante diversos métodos, como la sustracción de funciones suaves y la estadística de Poisson. El tercer capítulo trata de los errores sistemáticos, identificando sus fuentes y proponiendo métodos para estimarlos y gestionarlos. El cuarto capítulo trata de la estimación y notificación de los límites de confianza, y describe procedimientos normalizados para evaluar la calidad de los ajustes. Por último, el quinto capítulo analiza la calidad del ajuste y la relación señal/ruido, ofreciendo métodos para evaluar la relación señal/ruido e interpretar los resultados. Esta guía práctica está diseñada para mejorar la precisión y la transparencia en el análisis de los datos XAFS.