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Advances in X-Ray Analysis

Advances in X-Ray Analysis

von Gavin R. Mallett und John B. Newkirk
Softcover - 9781468478372
53,49 €
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Beschreibung

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Volume 10

Details

Verlag Springer US
Ersterscheinung Juni 2012
Maße 25.4 cm x 17.8 cm
Gewicht 1061 Gramm
Format Softcover
ISBN-13 9781468478372
Auflage Softcover reprint of the original 1st ed. 1967
Seiten 558