{"product_id":"uma-lista-logica-fiavel-com-abordagem-escalavel-von-aradhyula-raghavaraju","title":"Uma lista lógica fiável com abordagem escalável","description":"\u003cp\u003ePropomos uma nova abordagem escalável para reduzir a PD durante o teste a velocidade de circuitos sequenciais com LBIST baseado em scan, utilizando o esquema de lançamento sobre captura. Isto é conseguido através da redução do factor de actividade do CUT, através da modificação adequada dos vectores de teste gerados pela LBIST de circuitos sequenciais. A geração de queda significativa de potência (PD) durante o teste de velocidade realizado pelo Logic Built-In Self Test (LBIST) é uma séria preocupação para os CI modernos.\u003c\/p\u003e\u003cdiv class=\"aw-variant-hidden-subtitle-div\" id=\"aw-variant-subtitle-9786205684665\"\u003e\u003ch3\u003e\u003c\/h3\u003e\u003c\/div\u003e","brand":"Autorenwelt Shop","offers":[{"title":"Softcover - 9786205684665","offer_id":40904294465629,"sku":"9786205684665","price":39.9,"currency_code":"EUR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0940\/0622\/files\/c59a0779-c991-4fa4-8294-8b6bf4e93088.jpg?v=1758516715","url":"https:\/\/shop.autorenwelt.de\/products\/uma-lista-logica-fiavel-com-abordagem-escalavel-von-aradhyula-raghavaraju","provider":"Autorenwelt Shop","version":"1.0","type":"link"}