{"product_id":"mikroprozessorsysteme-zuverlassigkeit-testverfahren-fehlertoleranz-von-r-hedtke","title":"Mikroprozessorsysteme","description":"\u003cp\u003eMit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur bei Ge­ raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men­ schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber­ mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus­ wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement \"Mikroprozessor\" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes­ sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent­ lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver­ ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz­ maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis­ kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu­ mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei­ terarbeitet. So bemerkt z. B.\u003c\/p\u003e\u003cdiv class=\"aw-variant-hidden-subtitle-div\" id=\"aw-variant-subtitle-9783540129967\"\u003e\u003ch3\u003eZuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz\u003c\/h3\u003e\u003c\/div\u003e","brand":"Libri","offers":[{"title":"Softcover - 9783540129967","offer_id":39426547843165,"sku":"9783540129967","price":54.99,"currency_code":"EUR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0940\/0622\/files\/06c176ba-f736-4ed4-86d4-ac7bf7b4167a.jpg?v=1763617777","url":"https:\/\/shop.autorenwelt.de\/products\/mikroprozessorsysteme-zuverlassigkeit-testverfahren-fehlertoleranz-von-r-hedtke","provider":"Autorenwelt Shop","version":"1.0","type":"link"}