{"product_id":"etude-de-la-fiabilite-des-oxydes-minces-dans-les-structures-mos-von-didier-goguenheim","title":"ETUDE DE LA FIABILITE DES OXYDES MINCES DANS LES STRUCTURES MOS","description":"\u003cp\u003eCe mémoire traite de la fiabilité des composants MOS  et des oxydes SiO2 ultra-minces. Le courant de fuite  dans l''oxyde dû aux contraintes électriques est  modélisé par un effet tunnel assisté par défauts, le  claquage mou (soft-breakdown) par un amincissement  local de l''oxyde et les fuites à basse tension comme  un effet tunnel via des états d''interface. Les   dégradations suivent une loi d''accélération en VG et  la probabilité de création de défauts est obtenue en  fonction de l''énergie des porteurs. Puis la   fiabilité du transistor lors de stress AC en  porteurs chauds a été étudiée. L''estimation quasi- statique de la durée de vie est appliquée au cas du  transistor de passage et ses limitations sont  pointées en cas de relaxation. Pour le procédé, on a  analysé les dégâts dans le volume du semi-conducteur  et les courants de fuite induits par une  implantation ionique à haute énergie. Une  méthodologie optimisée de détection des défauts  latents dus au Wafer Charging utilisant des  injections brèves de porteurs chauds est décrite.   Enfin, nous avons identifié par DLTS deux défauts  liés à une contamination au Fer dans le Silicium  (paire Fe-B et Fer interstitiel).\u003c\/p\u003e\u003cdiv class=\"aw-variant-hidden-subtitle-div\" id=\"aw-variant-subtitle-9786131531125\"\u003e\u003ch3\u003e\u003c\/h3\u003e\u003c\/div\u003e","brand":"Autorenwelt Shop","offers":[{"title":"Softcover - 9786131531125","offer_id":40147952828509,"sku":"9786131531125","price":49.0,"currency_code":"EUR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0940\/0622\/files\/0032d954-4616-4606-b2d8-e835fbf36c6e.jpg?v=1781590023","url":"https:\/\/shop.autorenwelt.de\/products\/etude-de-la-fiabilite-des-oxydes-minces-dans-les-structures-mos-von-didier-goguenheim","provider":"Autorenwelt Shop","version":"1.0","type":"link"}