{"product_id":"estudo-e-simulacao-de-ruido-em-transistores-von-rafael-varela-della-giustina","title":"Estudo e simulação de ruído em transistores","description":"\u003cp\u003eA redução das dimensões dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impõe diversos desafios no projeto de circuitos integrados. O impacto das variações intrínsecas afetando parâmetros elétricos cresce em importância à medida que a área dos dispositivos adentra a faixa nanométrica. Dentre essas variações estão flutuações nas tensões e correntes de terminal causadas pelas diferentes formas de ruído intrínseco dos dispositivos MOS. Este trabalho apresenta um estudo sobre o impacto do ruído elétrico no desempenho de circuitos MOS. Um novo modelo para simulação do Random Telegraph Signal (RTS) no domínio do tempo é utilizado. Uma metodologia de simulação para contabilizar o ruído térmico em simulações transientes também é proposta. A partir desses modelos de simulação de dispositivos, o trabalho de pesquisa analisa o impacto da variabilidade de parâmetros elétricos em nível de circuito. As simulações focam na caracterização da pureza espectral em osciladores em anel de sinal diferencial. Diversas topologias são apresentadas e posteriormente comparadas em termos do jitter no período de oscilação.\u003c\/p\u003e\u003cdiv class=\"aw-variant-hidden-subtitle-div\" id=\"aw-variant-subtitle-9786130153908\"\u003e\u003ch3\u003eAnálise sobre o impacto dos ruídos RTS e térmico no desempenho de circuitos MOS\u003c\/h3\u003e\u003c\/div\u003e","brand":"Autorenwelt Shop","offers":[{"title":"Softcover - 9786130153908","offer_id":40148868825181,"sku":"9786130153908","price":54.9,"currency_code":"EUR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0940\/0622\/files\/e45c40d9-b1b5-4c2e-94a1-62da0e9b6782.jpg?v=1765348429","url":"https:\/\/shop.autorenwelt.de\/products\/estudo-e-simulacao-de-ruido-em-transistores-von-rafael-varela-della-giustina","provider":"Autorenwelt Shop","version":"1.0","type":"link"}